Silizium karbid ist ein sehr hartes Material ähnlich Diamant, mit guter Wärme leitfähig keit und chemischer Stabilität. Silizium karbid spiegel nutzen diese Eigenschaften von Silizium karbid materialien, um Licht reflexion und Fokus zu erreichen.
Silizium karbid spiegel ist die Kern komponente des optischen Hoch leistungs systems, und seine Leistung ist für den Beobachtungs effekt sehr wichtig.
Silizium-Scans piegel besteht im Allgemeinen aus mono kristallinem Silizium material, eine Art optisches Hoch leistungs element mit aus gezeichneter thermischer Stabilität und optischen Eigenschaften. Silizium-Scans piegel ist weit verbreitet in Laser radar, optische Messung, Laser bearbeitung und anderen Bereichen.
Silizium-Scans piegel besteht im Allgemeinen aus Präzisions bearbeitungs technologie wie Schneiden, Schleifen und Polieren und zeichnet sich durch hohe Präzision und hohe Oberflächen beschaffenheit aus. In LiDAR kann der Silizium-Abtast spiegel als Abtast element verwendet werden, um das Scannen und Positionieren der Richtlinie durch Manipulation der Richtung des reflektierten Lichts abzuschließen. Bei der optischen Messung kann der Silizium-Abtast spiegel als Abtast-oder Modulation element verwendet werden, um die genaue Steuerung und Messung des Strahls abzuschließen. Bei der Laser bearbeitung kann der Silizium-Scans piegel verwendet werden, um die Leistung und Strahlform des Lasers zu steuern, um die Präzisions bearbeitung verschiedener Materialien abzuschließen.
Der Silizium-Scans piegel wird durch die Richtung des reflektierten Lichts gesteuert, um das Scannen und die Position ierung der Richtlinie abzuschließen. Wenn der Laser den Laserstrahl ankündigt, trifft der Strahl auf die Oberfläche des Silizium-Scans pi egels und wird durch die Wirkung des Spiegels reflektiert. Durch Manipulation der Rotations-oder Translation bewegung des Silizium-Abtast spiegels kann die Richtung des reflektierten Strahls geändert werden, und dann kann die Abtastung und Position ierung des Strahls abgeschlossen werden. In LiDAR kann die Scan bewegung des Silizium-Scans pi egels das 3D-Scannen und Abbilden der Umgebung vervollständigen, um die Erkennung und Position ierung der Richtlinie abzuschließen. Bei der optischen Messung können die Abtast-und Modulation effekte des Silizium-Scans pi egels die genaue Steuerung und Messung des Lichtstrahls abschließen, um die Messung der Größe, Form, abstand und andere Parameter des Objekts.
Kurz gesagt, der Silizium-Scans piegel ver vollständigt das Scannen und Positionieren der Richtlinie, indem er die Richtung des reflektierten Lichts genau manipuliert. Bereitstellung einer hochpräzisen und hoch zuverlässigen Lösung für eine Vielzahl von Anwendungen.
Material | Si kristall P oder N |
Reinheit | 5N-9N |
Kristall orientierung | <100> oder <111> |
Dimensions toleranz | ± 0,02/± 0,1mm |
Parallelität | Besser als 3 Arc min |
Oberflächen qualität | 60/40 oder besser |
Flachheit: | Λ/8 @ 632nm |
Dimension | Strahl größe |
L * W * T (mm) | |
8,4x11,5x1,05 | 5 |
9x2x1,05 | 5 |
12,6x15x1,7 | 8 |
10,6x25,4x1,7 | 8 |
13,7x20,3x2 | 10 |
13,69x20,32x1,5 | 10 |
20x25x2 | 12 |
19x32x2 | 12 |
17,78x24,43x1,5 | 12 |
17,2x22,5x1,2 | 12 |
24,8x39,4x3,2 | 16 |
23x34x2 | 16 |
23x30x2 | 16 |
21x30x2 | 16 |
30x35x2 | 20 |
27x32x2 | 20 |
25x30x2 | 20 |
35x45x2 | 25 |
34x55x4 | 25 |
46,7x70, 1x4 | 30 |
45x70x4 | 30 |
43x63x4 | 30 |
30 | |
60x80x4 | 40 |
47x76x5 | 40 |