Silizium-Galvo-Scans piegel

Merkmale des Silicon Galvo Scanning Spiegel

• Silizium-Scans piegel besteht im Allgemeinen aus Mono kristallinem Silicium material, eine Art optisches Hoch leitungs element mit aus gezeichnetem thermischer Stabilität und optischem Eigens chaften. Silizium-Scans piegel ist weit verbreitet in Laser radar, optisches Messung, Laser bearb eitung und anderen Bereichen.

  
  

• Silizium-Scans piegel besteht im Allgemeinen aus Präzisions bearb eitens technologie wie Schneiden, Schleifen und Polieren und zeichner isch durch hohe Präzision und hohe Oberflächen besch affenheit aus. In LiDAR kann der Silicium-Abtast spiegel als Abtast element verwendet werden, um das Scannen und Position ierung der Richt linie durch Manipulation des Richtens des reflekt ierten Lichter abzus chließen. Bei der op tischen Messe kann der Silicium-Abtast spiegel als Abtast-oder Modulation element verwendet werden, um die genie Steuern und Messung des Strahls abzusch ließen. Bei der Laser bärbeitung kann der Silicium-Scans piegel verwendet werden, um die Leisten und Strahl form des Lasers zu steuern, um die Präzisions bearb eitung verschiedener Materia alien abzus chie ßen.

  
  

• Der Silicium-Scans piegel wird durch die Richt des reflekt ierten Lichter gesteuert, um das Scannen und die Position ierung der Richt linie abzusch ließen. Wenn der Laser den Laserstrahl anbündelt, trifft die Strahl auf die Oberblätter des Siliziums-Scans pi egels und wird durch die Wirkung des Spiegels reflektiert. Durch Manipulation der Rotationen-oder Übersetzung des Siliziums-Abtast spiegels können die Richtung des reflek tischen Strahls werden, und wann kann die Abtastung und Position ierung des Strahls abgeschloß werden. In LiDAR kann die Scan beweg des Siliziums-Scans pi egels das 3D-Scannen und Abbilder der Umgebung, um die Erkennung und Position ierung der Richt linie abzus chließen. Bei der optischen Messe können die Abtast-und Modulation effekte des Siliziums-Scans pi egels die genaue Steuerung und Messung des Lichtstrahls absch ließen, um die Messung der Größe, Form, abstand und andere Parameter des Objekts.

  
  

• Kurz geagiert, der Silicium-Scans piegel ver vollstängelt das Scannen und Positionen der Richt linie, indem er die Richt ung des reflekt ierten Lichts genau manipuliert. Bereitung einer hochpräzisen und hoch zulässigen Lösung für eine Vielzahl von Anwendungen. ­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­­

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